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DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） （Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀）探頭技術(shù)指標(biāo)
發(fā)布時(shí)間：2019/8/6 9:16:27 點(diǎn)擊次數(shù)：760次
一、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)概述：
本導(dǎo)熱儀采用瞬態(tài)平面熱源法，基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk探頭,專用高精度單元儀表的測(cè)試與通迅技術(shù),利用計(jì)算機(jī)高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)對(duì)探頭進(jìn)行快速數(shù)據(jù)采集、通過完善的數(shù)學(xué)模型快速計(jì)算,能迅速測(cè)試出準(zhǔn)確可靠的結(jié)果；專業(yè)儀表使整機(jī)可靠性特高，操作方便，維護(hù)迅速方便。
二、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)儀器的優(yōu)點(diǎn)有：
1、直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間；
2、不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；
3、無須特別的樣品制備，對(duì)固態(tài)材料只需有一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面。具有測(cè)量速度快、適用范圍寬以及能夠成功避免在實(shí)驗(yàn)過程中自然對(duì)流的影響等優(yōu)點(diǎn)，是目前比較流行的測(cè)試方法。
本導(dǎo)熱儀采用瞬態(tài)平面熱源法，基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk探頭,專用高精度單元儀表的測(cè)試與通迅技術(shù),利用計(jì)算機(jī)高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)對(duì)探頭進(jìn)行快速數(shù)據(jù)采集、通過完善的數(shù)學(xué)模型快速計(jì)算,能迅速測(cè)試出準(zhǔn)確可靠的結(jié)果；專業(yè)儀表使整機(jī)可靠性特高，操作方便，維護(hù)迅速方便。
二、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)儀器的優(yōu)點(diǎn)有：
1、直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間；
2、不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；
3、無須特別的樣品制備，對(duì)固態(tài)材料只需有一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面。具有測(cè)量速度快、適用范圍寬以及能夠成功避免在實(shí)驗(yàn)過程中自然對(duì)流的影響等優(yōu)點(diǎn)，是目前比較流行的測(cè)試方法。
三、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)設(shè)備參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2 2008。
四、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)測(cè)試材料：
測(cè)試材料: 金屬、陶瓷、合金、導(dǎo)熱硅脂、硅膠、硅橡膠、巖土、巖石、聚合物、紙、織物、泡沫塑料、混凝土、復(fù)合板材、紙蜂窩板等固體、粉末、液體、糊狀、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴(kuò)散系數(shù)）和比熱容、蓄熱系數(shù)及熱阻。
五、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)主要技術(shù)參數(shù)：
1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.0001～100 w/(m.k),分辯率為0.00001w/(m.k)；
2、熱擴(kuò)散系數(shù)（導(dǎo)溫系數(shù)）范圍：0.1～100 m2/s；
3、蓄熱系數(shù)范圍：0.1～30 w/(m2.k)；
4、比熱容范圍：0.1～5 kJ/(kg.℃)；
5、熱阻范圍：0.5～0.000005 mm2.k/w；
6、溫度測(cè)量精度：≤0.001℃；
7、測(cè)量相對(duì)誤差：≤3%；
8、重復(fù)性誤差：≤ 3%；
2、熱擴(kuò)散系數(shù)（導(dǎo)溫系數(shù)）范圍：0.1～100 m2/s；
3、蓄熱系數(shù)范圍：0.1～30 w/(m2.k)；
4、比熱容范圍：0.1～5 kJ/(kg.℃)；
5、熱阻范圍：0.5～0.000005 mm2.k/w；
6、溫度測(cè)量精度：≤0.001℃；
7、測(cè)量相對(duì)誤差：≤3%；
8、重復(fù)性誤差：≤ 3%；
9、測(cè)試時(shí)間：1～120 秒。
10、試樣測(cè)試溫度范圍：-40～130℃；標(biāo)準(zhǔn)配置：室溫。可根據(jù)客戶要求選配各種高、低溫度段控制箱(-40～130℃)或真空狀態(tài)下的測(cè)試狀態(tài),合同約定，費(fèi)用另計(jì)；
11、探頭配置：標(biāo)準(zhǔn)配置：直徑Φ15mm。可根據(jù)客戶要求選配探頭直徑：Φ15mm、Φ7.5mm、或同時(shí)配置，合同約定，費(fèi)用另計(jì)；
10、試樣測(cè)試溫度范圍：-40～130℃；標(biāo)準(zhǔn)配置：室溫。可根據(jù)客戶要求選配各種高、低溫度段控制箱(-40～130℃)或真空狀態(tài)下的測(cè)試狀態(tài),合同約定，費(fèi)用另計(jì)；
11、探頭配置：標(biāo)準(zhǔn)配置：直徑Φ15mm。可根據(jù)客戶要求選配探頭直徑：Φ15mm、Φ7.5mm、或同時(shí)配置，合同約定，費(fèi)用另計(jì)；
12、試樣要求：
a、固體塊狀或圓形、方形、異形樣品，無須特別制備，只需一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面,配有專用試樣裝夾裝置。Φ7.5mm探頭所測(cè)樣品最小尺寸（15x15x3.75mm), Φ15mm探頭所測(cè)樣品最小尺寸 (30x30x7.5mm)。
b、對(duì)粉狀、糊狀、液狀物質(zhì)無特殊要求,配有專用試樣測(cè)試盒。
c、所測(cè)較薄材料,可將樣品進(jìn)行疊加測(cè)試。
c、所測(cè)較薄材料,可將樣品進(jìn)行疊加測(cè)試。
13、采用全自動(dòng)測(cè)試軟件，快速準(zhǔn)確對(duì)樣品進(jìn)行試驗(yàn)過程參數(shù)分析和報(bào)告輸出。
14、電源：AC 220V±10%，50/60 Hz, 整機(jī)功率：＜500w；
3、最大功率：20w；
4、最大電壓：20V；
5、最大電流：1A；
6、電阻：10Ω左右，依探頭上標(biāo)注阻值為準(zhǔn)；
7、鎳絲規(guī)格：厚度0.01mm,熱絲寬度：0.35±0.03mm；熱絲間距：0.35±0.03mm ；
8、保護(hù)層材料：聚酰亞胺薄膜（Kapton）；單層厚度：0.06mm；
9、探頭直徑：Φ15mm,Φ7.5mm兩種。
10、探頭總厚度（包括粘結(jié)層厚度）0.07±0.02mm。
14、電源：AC 220V±10%，50/60 Hz, 整機(jī)功率：＜500w；
六、DRE-III多功能快速導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法） (Hot Disk法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀)探頭技術(shù)指標(biāo)：
1、加熱材料：金屬鎳；
2、使用溫度：-50～150℃；3、最大功率：20w；
4、最大電壓：20V；
5、最大電流：1A；
6、電阻：10Ω左右，依探頭上標(biāo)注阻值為準(zhǔn)；
7、鎳絲規(guī)格：厚度0.01mm,熱絲寬度：0.35±0.03mm；熱絲間距：0.35±0.03mm ；
8、保護(hù)層材料：聚酰亞胺薄膜（Kapton）；單層厚度：0.06mm；
9、探頭直徑：Φ15mm,Φ7.5mm兩種。
10、探頭總厚度（包括粘結(jié)層厚度）0.07±0.02mm。
原創(chuàng)作者：湘潭湘儀儀器有限公司
